冷热冲击试验箱 电子元件环境测试设备是一款专为电子、电器、元器件及材料等领域设计的高性能三箱式冷热冲击试验箱。它通过模拟极速的高低温转换环境，对测试品在瞬间经受温度剧烈变化时的适应性及可靠性进行严格考核，是提升产品质量、进行失效分析及可靠性筛选关键设备。

冷热冲击试验箱 电子元件环境测试设备

产品概述

本产品是一款专为电子、电器、元器件及材料等领域设计的高性能三箱式冷热冲击试验箱。它通过模拟极速的高低温转换环境，对测试品在瞬间经受温度剧烈变化时的适应性及可靠性进行严格考核，是提升产品质量、进行失效分析及可靠性筛选关键设备。

基本结构

设备采用三箱隔离式结构（高温区、低温区、测试区），测试区由提篮（吊篮）机构带动，在预设时间内在高低温区之间进行精准转换。箱体采用优质不锈钢板，内部结构坚固耐用。保温层为高性能聚氨酯发泡，确保优异的隔热性能。配备高强度耐高温的引线孔，便于产品带电测试。

冷热冲击试验箱 电子元件环境测试设备

工作原理

设备基于静态存储、动态冲击的原理工作。高温箱和低温箱在测试前预先达到并稳定在设定的温度。当测试开始时，通过提篮传动机构，将放置在测试篮中的样品在短时间内（通常数秒内）在高、低温储存区之间进行切换，使样品瞬间暴露在截然不同的温度环境中，从而产生剧烈的温度冲击效应。

主要功能及特点

• 极速转换：提篮转换时间短，通常小于10秒，确保温度冲击的剧烈性。

• 精准温控：采用进口PID智能温控仪，控温精确，波动度小，保证测试条件的重现性。

• 独立系统：高低温区采用独立的制冷和加热系统，避免相互干扰，温度恢复快。

• 安全保护：具备多重安全保护功能（超温保护、风机过热保护、漏电保护等），确保设备与操作人员安全。

• 人性化操作：大尺寸触摸屏人机界面，程序编辑简单直观，可存储多组程序，方便调用。

应用场景

广泛应用于半导体IC、PCB电路板、电子连接器、汽车电子、航空航天、、新材料研究等领域产品的环境应力筛选（ESS试验）、质量验证、失效分析及研发测试。

技术参数

• 温度范围：高温区：+60℃ ~ +200℃；低温区：-10℃ ~ -65℃

• 冲击温度：-55℃ ~ +150℃（常用范围）

• 转换时间：＜10秒（从低温到高温或反之）

• 温度恢复时间：＜5分钟（恢复至设定温度）

• 内箱尺寸：可根据需求定制（如 40*35*35cm）

设备亮点与优势

1. 高可靠性：核心元器件（如压缩机、控制器、传感器）均采用国际品牌，保证设备长期稳定运行，故障率极低。

2. 节能高效：独特的三箱式设计及优化后的制冷系统，相比两箱式结构，在预冷和预热过程中能耗更低，测试效率更高。

3. 测试无损：样品在测试区静止，提篮移动进行温度切换，避免了传统两箱式因样品移动可能产生的振动应力，测试结果更精确。

4. 强大的数据记录：配备USB接口和RS-485通讯接口，可全程记录温度-时间曲线和报警信息，方便进行数据追溯与分析，为产品质量改进提供有力依据。