三箱冷热冲击试验箱，满足电子元件测试要求是专为电子、电器、元器件等产品进行可靠性测试而设计的高精度环境模拟设备。它通过温度转换，在短时间内检验测试品因热胀冷缩引发的化学变化或物理损伤，从而评估其产品的可靠性和稳定性。

三箱冷热冲击试验箱，满足电子元件测试要求

产品详情与概述
本三箱式冷热冲击试验箱是专为电子、电器、元器件等产品进行可靠性测试而设计的高精度环境模拟设备。它通过温度转换，在短时间内检验测试品因热胀冷缩引发的化学变化或物理损伤，从而评估其产品的可靠性和稳定性。

基本结构
设备采用独特的三箱式结构布局，分为高温区、低温区和测试区。箱体采用优质不锈钢板制造，内部结构设计科学，确保了温度传导的高效性和均匀性。配备高强度耐高温与耐低温的隔热材料，有效减少热量损失。测试区配备可移动的样品篮，实现高温与低温区域的自动切换。

工作原理
其工作原理是基于机械动力驱动吊篮，在高温舱、低温舱和测试舱之间进行循环移动。测试样品放置在吊篮中，当需要温度冲击时，吊篮迅速将样品移入预设好的高温或低温环境中，在极短时间内实现温度场的剧烈变化，完成冷热冲击过程。

三箱冷热冲击试验箱，满足电子元件测试要求

主要功能及特点

• 精准温控：采用微电脑控制器，实现高精度温度控制和时序设定。

• 自动切换：全自动高低温切换系统，测试过程无需人工干预，提高测试效率。

• 安全保护：具备多重安全保护功能（如超温保护、漏电保护、风机过热保护等），确保设备与操作人员安全。

• 快速恢复：高温区与低温区持续待机，确保冲击时温度瞬间恢复，满足严苛测试要求。

应用场景
广泛应用于电子元器件、半导体集成电路、通讯产品、汽车零部件、航空航天组件、新材料研究等领域的产品可靠性筛选与质量评估试验。

技术参数

• 温度冲击范围：-65℃～+150℃（或依客户需求定制）

• 高温区温度范围：+60℃～+200℃

• 低温区温度范围：-80℃～0℃

• 转换时间：＜10秒（手动型＜1分钟）

• 温度恢复时间：＜5分钟（约）

• 内箱尺寸：可根据需求定制

设备亮点
本设备的突出亮点在于其三箱独立式设计。高温区、低温区持续恒温待命，测试区为独立的静态空间，避免了传统两箱式设备在转换过程中冷热气流相互干扰的问题，温度冲击更加纯粹，温度恢复时间更快，测试结果更精准可靠。

优势
相比两箱式冲击箱，三箱式结构避免了测试样品在转换过程中吸入常温空气，从而影响温度变化的剧烈程度和测试的严酷性。它能提供更精确、更温度冲击环境，数据重复性好，极大提高了测试效率和准确性，是进行高可靠性筛选的理想选择。