电子芯片可靠性高低温交变湿热试验箱专为满足芯片在复杂环境下的可靠性测试需求而设计，通过精准模拟温湿度环境，严格检测芯片性能稳定性，助力提升芯片质量与可靠性。

产品型号：THC-015PF
厂商性质：生产厂家
更新时间：2025-06-27
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详细介绍

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

电子芯片可靠性高低温交变湿热试验箱

工作原理

用户设定温湿度参数及测试程序后，控制系统启动。温度控制系统、制冷系统和加湿系统协同工作，传感器持续采集箱内温湿度数据并反馈至控制系统。控制系统通过闭环控制，根据偏差实时调整各系统运行状态，实现温湿度的精确交变模拟，同时记录芯片在不同环境下的性能数据，为可靠性分析提供依据。

电子芯片可靠性高低温交变湿热试验箱

电子芯片可靠性高低温交变湿热试验箱

制冷系统

采用复叠式制冷技术，配置环保型制冷剂和双级压缩机。通过电子膨胀阀精确控制制冷剂流量，配合高效冷凝器和蒸发器，实现快速降温。制冷系统还具备智能节能模式，根据箱内温度自动调整压缩机转速，在保障制冷效果的同时降低能耗，确保芯片在低温测试中稳定运行。

加湿系统

采用干蒸汽加湿与超声波雾化的复合加湿方式。干蒸汽可实现快速加湿，满足高湿度测试需求；超声波雾化则用于湿度的精细调节。高精度湿度传感器实时监测箱内湿度，控制系统根据反馈信号，以 0.1% RH 的精度调节加湿量，确保湿度控制精准无误。

电子芯片可靠性高低温交变湿热试验箱

技术参数

温度范围为 -65℃~150℃，湿度范围 10% - 98% RH，能模拟芯片在极寒、高温及高湿环境下的工作状态。温度波动度≤±0.2℃，温度均匀度 ±1℃，湿度偏差 ±1.5% RH，确保箱内环境高度一致。升温速率≥3℃/min，降温速率≥2.5℃/min，可快速完成温湿度交变，提高测试效率。支持多达 50 段可编程温湿度曲线，满足芯片复杂测试场景需求。

电子芯片可靠性高低温交变湿热试验箱