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电视芯片可编程冷热冲击试验箱升温快两槽

电视芯片可编程冷热冲击试验箱升温快两槽适用于考察 电工电子产品、元器件、零部件及其材料在不同温湿度条件下,其耐潮湿能力,还可以作为在高低温环境下储存、运输、适用时的适应性试验

  • 产品型号:TSD-100F-2P
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-03-29
  • 访  问  量:439
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详细介绍

电视芯片可编程冷热冲击试验箱升温快两槽






快速温变试验箱是产品在设计强度极限下,运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现,以避免该产品于使用过程中,受到环境应力的考验时而导致失效,造成不必要的损失,对于提高产品出货良率与降低返修次数有显注的效果;

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特点:

1、高质感外观,箱体结构。制冷系统、控制技术均做较大改进,技术指标更稳定,,维修更方便。

2、真空双层玻璃:大视窗设计,窗口有防汗电热器装置,可防止水气凝结水滴,及高亮度照明。

3、具可外接式供水系统,方便于补充加湿桶供水,并自动回收利用。

4、控制器采用进口LED显示屏,可同时显示测定值及设定值、时间等。

5、可与电脑连接USB/RS232接口,可将温度湿度 曲线数据记录

6、程序循环:全部循环,多999回,部分循环、多99回


电视芯片可编程冷热冲击试验箱升温快两槽



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高温槽温度范围

+60 ~150℃,

低温槽温度范围

A:(-55 ~ -10℃),   B:(-65 ~ -10℃),   D:(-80 ~ -10℃),

实验箱冲击温度

高温

60~150℃

低温

A:(-10~-35℃)              B:( -10~-55℃)                    D:( -10~-65℃)

升温时间

60~200℃小于25分

降温时间

A:+20~-55℃小于60分      B:+20~-65℃小于70分       D:+20~-75℃小于80分


冲击恢复时间


高温(150℃)冲击30分钟

低温(-35℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟

温度恢复时间:5分钟以内

吊拦移动时间

15秒已内

吊拦尺寸D(㎝)

35x30

45x35

55x45

65x55

可受试样重量

2.5Kg

5Kg

6Kg

8Kg

结构尺寸

HxD(CM)

35x40x35

40x50x40

50x60x50

60x70x60

140x125x132

150x135x147

160x155x192

170x165x217

内箱材质

SUS 304#镜面不锈钢板.     .  

外箱材质

特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路不锈钢.

保温层材质

PU发泡

底座材质

国标角铁+槽钢.


控制系统

采用*微电脑液晶显示触控式莹幕直接按键型,中英文表示5.7"之广视角,高对比附可调背光功能,具96个试验规范可独力设定、储存记忆控制,并附多组PID控制功能,操作筒单,功能强大,程序编辑容易之大型LCD液晶显示控制器.

冷冻系统

复叠水冷式欧美*全封闭或半密闭式高效压缩机组,

安全保护装置

无熔丝过载探保护,压缩机过热, 过流, 超压, 加热干烧, 箱内超温警报系统.

标准配置

吊拦架(2组) .

电源

AC3¢5W380V50HZ






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