聚焦电子广皓天仪器推出 “微小型氙灯试验箱”适配芯片封装件老化测试

更新时间：2025-08-25

浏览次数：38

近日，广皓天仪器在电子测试设备领域再出新动作，专为芯片封装件老化测试推出 “微小型氙灯试验箱"。该设备以紧凑结构与精准控光性能，微小电子元件专用老化测试设备的市场空白，为芯片封装件的可靠性检测提供了全新解决方案。

聚焦电子广皓天仪器推出 “微小型氙灯试验箱

随着芯片向高密度、微型化发展，封装件的耐候性对整机稳定性的影响愈发关键。传统氙灯试验箱因腔体过大、光照聚焦精度不足，难以适配尺寸仅几毫米的芯片封装件 —— 测试时易出现局部光照不均，导致引脚氧化、胶体开裂等细微缺陷无法被精准捕捉。而广皓天此次推出的微小型设备，针对这一痛点实现了针对性突破。

这款试验箱将测试腔体体积压缩至传统设备的 1/5，采用定制化微型氙灯模组，配合高精度光学聚光系统，可将光照能量精准聚焦于 10mm×10mm 的测试区域，光照均匀度达 97% 以上。同时延续了广皓天核心的光谱动态修正技术，能模拟芯片在终端应用中可能遭遇的办公室照明、户外阳光等 6 类典型光源环境，光谱匹配误差控制在 ±3% 以内。

聚焦电子广皓天仪器推出 “微小型氙灯试验箱

“芯片封装件的老化测试一直面临‘大设备测小样品’的尴尬，这款设备让我们能精准观察封装胶体在光照下的黄变速度，以及金线键合处的性能变化。" 某半导体封装企业测试工程师表示，该设备的温度 - 光照协同控制功能，可复现汽车电子等场景中 - 40℃至 85℃的温度波动与光照叠加环境，测试效率较传统方法提升 50%。

聚焦电子广皓天仪器推出 “微小型氙灯试验箱

据悉，该设备已通过国内多家半导体企业的验证测试，目前已批量投产。广皓天技术负责人表示，后续将针对 5G 芯片、车载芯片等不同应用场景，推出具备多工位同步测试、数据自动分析功能的升级版本，持续为电子元器件的可靠性测试提供更精准的设备支撑。