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Cassification
高低温冷热冲击试验箱与温度循环试验箱常被混淆,但二者并非同一种设备。前者以 “温度骤变" 为核心特征,后者侧重 “温度缓慢循环",在技术原理、性能指标与应用场景上存在本质区别,尤其高低温冷热冲击试验箱的 “冲击性" 设计,使其与温度循环试验箱形成明确界限。
温度变化速率是最直观的差异。高低温冷热冲击试验箱的核心在于 “冲击",其温变速率通常≥15℃/min,设备可达 30℃/min 以上,能实现 - 70℃与 150℃之间的快速切换,模拟环境下的温度骤变。而温度循环试验箱的温变速率多≤5℃/min,更接近自然环境的温度渐变,如从 25℃升至 85℃可能需 1 小时,降温过程同样缓慢。这种速率差异源于核心设计:高低温冷热冲击试验箱设有独立高温区、低温区与测试区,通过风幕快速切换实现温度骤变;温度循环试验箱则是单一腔室,依赖加热器与制冷系统逐步调节温度。
核心测试目标的差异更为关键。高低温冷热冲击试验箱聚焦 “材料应力突变" 测试,通过剧烈温度变化激发产品内部潜在缺陷,如电子元件焊点因热胀冷缩产生的裂纹、电池极片的分层风险等。某汽车电子企业用其测试车载芯片,在 - 40℃与 85℃反复冲击下,能快速暴露芯片封装的密封性问题。而温度循环试验箱侧重验证产品在长期温度波动下的稳定性,如检测传感器在 - 20℃至 60℃循环 1000 次后的精度衰减,更贴近产品的日常使用工况。
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